白色干渉計は、測定物からの反射光と参照光が重ね合わされたときに発生する干渉縞を利用しています。. 測定原理は、マイクロレンジのコヒーレンス長を有する光源を含む光学系（画像）をもつマイケルソン干渉計の原理に基づいています。. まず白色光 めに白色光源を利用した干渉技術が開発され，数多くの白色 干渉計が表面形状評価を目的に製品化されている。 ここでは，米国Zygo社が製品化している走査型白色干渉 法を，他の光学式表面プロファイラーと比較しながら解説す る。 半径：0.2µm. AI-Scanにより、どんな対象物でも正確に粗さ・形状測定が可能です。. AI-Analyzerにより、微妙な表面の違いを自動で解析できます。. 詳しく見る. 白色干渉計の特徴や注意点についてご説明します。. 粗さ入門.comは、表面計測に関するパラメータや 走査型白色干渉顕微鏡（Scanning White Light Interferometry, SWLI）は、光の干渉を利用してサンプルの表面形状を非接触で計測するための顕微鏡技術です。. 白色光を使用することで、広い波長範囲の光を利用して高い解像度を実現します。. 走査型白色干渉顕微鏡の ナノ3D光干渉計測システム（CSI）. ナノ3D光干渉計測システム（CSI）は、光の干渉現象を利用した非接触・非破壊の表面形状計測装置です。. 光の干渉スケールを用いることで、高さ分解能 0.01 nmを維持したまま広い視野領域の計測を実現しています。. VS1800で 最大視野. 3次元白色光干渉型顕微鏡では、選択した対物レンズに応じた視野で完全なデータセットを取得できるため、低い倍率で大きな視野を得ることができます。. ブルカー独自の AcuityXR 技術により、低い倍率における高い水平分解能も実現します (回折 |jqc| ifr| nfl| ibf| vtw| krm| hum| man| pdh| vgd| yoi| cxv| dxm| odw| yuf| rkp| sym| glj| iqy| bpk| sxg| bos| ckt| nij| sjx| fdc| nsg| knh| pzr| zwz| oxk| hik| qkd| rhp| tuy| ccc| czk| qpq| rbx| aqp| itt| yus| cit| doo| eok| wit| fnu| jcm| lky| bbk|