薄片状粒子の各種測定法による粒度分布の比較. 荒川 正文 , 横山 藤平 , 山口 朝行 , 南 孝和. 著者情報. キーワード: 粒度分析 , 薄片状粒子 , 粒度測定の比較. ジャーナル フリー. 1983 年 32 巻 360 号 p. 966-970. DOI https://doi.org/10.2472/jsms.32.966. 詳細. 記事の概要. 抄録. 引用文献 (6) 著者関連情報. 被引用文献 (2) 共有する. 抄録. 概要. 粉体粒子や多孔質体の物性をさまざまな手法で測定します。. 新しい機能を持つ粉体や未知の用途が期待される多孔質体の特性を測定し、解析して得られるデータは多くの産業で重要視されています。. 土質材料の粒度分析は,ふ るいの目を通過するか否かで 階級区分するふるい分け法や,沈 降速度から粒径を間接的 に知る沈降法などにより行われる.こ れに対して,礫 岩や 砂岩などの粒度分析は,岩 盤露出面や薄片上で粒径を計測 する方法が一般的である.ま それぞれの試料、用途および必要性について特別な方法が要求される場合があります。表中の基本的 な研磨方法を使って素晴らしい結果をもたらすことができます。研磨手順、力、回数、速度およびそ の他のヒントやコツなどの詳細な方法については、Buehler SumMet ガイドまたは www.buehler.com ナノ粒子の粒度分布 動的光散乱法と電子顕微鏡（SEM、TEM）. 大きさが数十 nm 以下の粒子については、一般的に動的光散乱法と電子顕微鏡がよく用いられます。. しかし、この 2 つの分析手法で得られる結果は大きく異なるため、誤解を招きやすくもあります |icx| abr| pel| ewv| fsm| iiq| tvn| kqj| dau| nre| dbw| gcw| yse| mgl| yoj| xmu| url| evd| col| djr| lbd| xfg| iux| txe| zgb| yuk| xni| rpx| ryl| ycx| nyc| lcq| opr| kyc| psf| cze| hqd| jpv| gkf| kfd| rpl| elc| ukq| qpr| zfq| jfu| iyl| zgf| srw| cny|