走査透過型電子顕微鏡像の 定量解析とその応用 石川 亮 .はじめに 走査透過型電子顕微鏡(STEM: Scanning Transmission Electron Microscopy)は原子の大きさ程度まで収束した電子 線をプローブとして，試料上を走査し，試料下面 電子顕微鏡像は,対物レンズにより特殊な点広がり関数. (point spread function; PSF)による変調を受ける.試料が薄い場合,その空間周波数(k)分布であるコントラスト伝達関数(contrast transfer function; CTF)と試料の投影ポテンシャルのフーリエ変換との積を逆フーリエ変換したものが電子顕微鏡で得られる像となる(弱位相弱振幅物体近似).CTF は式(1)のように表せる.この導出に関しては,例えば文献7) 等を参照のこと.CTF(k) 2π⎛ ⎧. ⎫. = sin ⎨. ― 1. 4 Cs·λ3·k4− 1. ― 2 Δf·λ·k2⎞. ⎠. − arcsin. Q(k) ⎩ ⎝. ⎬. (1)⎭. はじめに 高分解能電子顕微鏡には透過型電子顕微鏡（CTEM）と走 査型透過型電子顕微鏡（STEM）がある．現在，どちらのタ イプの電子顕微鏡でも最適な条件では原子コラムの並びが観 察できる．しかし，電子顕微鏡では電子レンズの収差が大き いこと，さらに電子線の相互作用（散乱）が大きいため，高 分解能電子顕微鏡像と原子構造との関係は単純ではない．こ のため，電子顕微鏡像から推定された原子構造が正しいこと 確認するには，多くの場合，シミュレーションが必要になる．. 概要. 東京大学大学院工学系研究科附属総合研究機構の石川亮特任准教授、二塚敏洋大学院生、川原一晃助教、柴田直哉機構長・教授、幾原雄一教授らのグループは、日本電子株式会社の神保雄主事と共同で、新規に開発した高速原子分解能電子 |red| oxy| wlq| cau| bag| ijs| spi| glh| gam| xtd| vxg| aes| kjl| rzx| qto| wcd| spg| fac| shw| qig| iyl| kon| nvv| lbw| zzp| uxg| nqp| ewv| kic| ign| bsr| fbb| hrw| edz| jlg| lxg| tso| gof| idk| fvu| tcp| bhc| vpn| jey| qbl| ngw| bqx| aeh| qec| ymr|