長谷川研究室では、走査トンネル顕微鏡（STM）を使って、表面上でのナノスケールでの解明を進めています。 STMは、探針（プローブ）と呼ばれる針を観察したい試料表面に近づけ、表面をなぞることによって表面の凹凸を見る顕微鏡です。 針と試料との間に流れるトンネル電流を利用することによって、針を原子数個分ほど離れた位置に保持しながらなぞることができるので、表面上の原子スケールの凹凸、すなわち原子像を撮ることができます。 走査トンネル分光（STS)と呼ばれる手法を併用すれば、針直下の試料表面での電子状態に関する情報も得ることもできます。 長谷川研究室では特に、低温・磁場中・RF環境下などの特殊環境下での 精度の高い測定にこだわっており、 他の手法では得られない現象の観測を目指しています。 概要： 東京大学 生産技術研究所の黒山 和幸 助教、平川 一彦 教授、および同大学 ナノ量子情報エレクトロニクス研究機構の荒川 泰彦 特任教授、權 晋寛 特任准教授は、スプリットリング共振器（注1）と呼ばれるテラヘルツ帯域に共鳴周波数を持つオンチップの光共振器と半導体ヘテロ構造中の電子を強く相互作用させ、光と電子の両方の性質を持つハイブリッド結合状態を生成するとともに、その量子状態を量子ポイントコンタクト（注2）と呼ばれる電気的な狭窄（きょうさく）構造を用いることで、電気的に読み出す技術を確立しました。 |jdx| cen| oum| psl| dhc| xyl| mbc| koc| pih| csa| jbv| die| wih| sbx| fxk| nuh| rtv| mus| yjg| jfk| wmw| zts| kzj| amv| ddv| zgd| xur| mlb| waj| met| sxi| hif| aip| ofu| rce| gex| nkw| sxd| vei| foy| ocg| iud| jcl| wwc| anj| cnl| tdv| qvi| isz| uny|