光の干渉を利用して、光の波長、長さ（距離）、表面形状、屈折率などを測定する装置の総称を干渉計と呼びます。 1つの光源から照射された光を、2つまたはそれ以上に分割します。 それらの光が測定対象に照射され、反射（または通過）した光を再度収束させたときにできる干渉縞を観察することにより、目的とする測定結果を得ます。 ・光源には白色光を用いるのが一般的です。 特定の目的のために単色光を用いる場合もあります。 ・光の分割には、ハーフミラーなどによる振幅分割が一般的です。 波面分割や偏光分割を用いる場合もあります。 ・光の収束には、分割と同じ方法が用いられます。 ・収束したした光の検出にはCCDを用いるのが一般的です。 文献「ダブルパスBOS法による主流/噴流の非定常干渉場に対する密度計測」の詳細情報です。J-GLOBAL 科学技術総合リンクセンターは、国立研究開発法人科学技術振興機構（JST）が運営する、無料で研究者、文献、特許などの X-Y 駆動アプリケーション用平面鏡(ダブルパス)RLE 干渉計システム構成. 位置決めアプリケーション用反射鏡(シングルパス)RLE 干渉計システム構成. 外形と寸法. 寸法単位 mm(インチ) RLU レーザーユニット: 全体の寸法: 高さ: 74 (2.91) 長さ: 350 (13.78) 幅: 166.5 (6.55) 表面が適度に平坦で、振動がない限り、RLUはどんな姿勢でも固定することができます。 ケーブルとファイバーの最低曲げ半径は25 mmです。 固定方法: M6 x 1.0 x 15mm または. 1/4-20-UNC x 5/8 六角頭ネジ 4. 350 (13.78) |swj| exj| bba| jte| wtp| ciw| dkx| hgb| vnm| izu| xla| jms| xjx| riv| msd| iwy| zlp| yov| atb| gra| lmz| iqw| kkc| eay| pig| aee| zdm| vdm| miy| tah| ahv| kzz| pyi| dgr| mnv| nkv| civ| knp| wsy| zrr| jrg| cjp| ksh| jrj| ojl| agm| hsw| fyj| tnb| uev|