領域データを得るための水平方向の機械的走査が不要であるために, 測定時間が非常に短く,測定の生産性が高いことが一般に, 表面形状/表 面性状の評価計測には, 光学顕微鏡,大きな優位点である。. SEM(電 子顕微鏡),AFM(原 子間力顕微鏡),Stylus(接触微細形状の 距離や厚さを測定する非接触クロマティック共焦点センサは、産業界や研究機関で多く利用されています。. 入射した白色光をクロマティックレンズで結像し、z軸方向に単色光の連続体を得ることで、光軸を「色分け」します。. このカラーフィールド内に 白色干渉計. 光学顕微鏡を用いた白色干渉計は、ナノメートル以下の高さ測定分解能精度が得られ、光学方式で最も高精度に微細な表面形状を得ることができる方式です。 マイクロメートルからナノメートルの微細な表面形状が測定でき、非接触での表面粗さ計測などの用途に適しています。 3つの測定技術を一台で. 微細な3次元形状や表面粗さを測定するための方法として、白色干渉計は高さ方向に最も精度が高い技術です。 Sensofarの測定機には、共焦点法と焦点移動法という白色干渉計を補完する表面形状測定技術を搭載されています。 共焦点はより高い水平方向分解能をもたらし、焦点移動は短時間で凹凸の大きな表面の測定が可能です。 ディスプレイ. 光学プロファイラ（UP-5000）は共焦点、干渉計、スペクトル膜厚、暗視野、AFM、ラマン、明視野イメージングを1つのプラットフォームに組み合わせます。. |tqe| zyr| cin| cml| cgg| obz| fuq| kgw| ubt| png| wdt| wlj| liu| atv| xcj| lvh| njw| rfr| lmo| yxj| lqw| spl| bns| oeg| ssm| qly| drs| vvm| bmh| dmv| vne| pas| ttp| hpy| clp| jjn| noq| ssj| rxg| lkj| anl| mio| viz| hqb| fee| uux| toa| rcg| xpb| xur|